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Mentor Graphics Tessent 2015.4 Linux

Tessent解决方案对设计的各个方面进行完备测试,以确保实现高质量的产品和成本控制。
主要优点:

  • –对数字电路、存储器、混合信号电路以及I/O拥有完整的测试解决方案,以达到最小DPM
  • –诊断驱动的良率分析方案能显著缩短发现良率损失根源的时间
  • –交互式的调试解决方案大大提高了调试被测芯片的效率
  • –自动的层次化测试流程确保对设计计划影响的最小化

主要特性:

  • –提供贯穿产品生命周期的完整测试,从晶圆、封装测试、老化、在系统和现场测试
  • –对测试压缩、内建逻辑自测试、内建存储器自测试以及边界扫描拥有一流的解决方案
  • –独有的针对SerDes和PLL的嵌入式测试和特性测试解决方案
  • –使用物理版图数据来改善测试和良率分析
  • –紧密整合测试和良率分析解决方案

完整的芯片测试解决方案
Mentor Graphics Tessent系列产品提供了一套完整的芯片测试和良率分析的平台以解决当今SoC测试、调试以及良率改善面临的挑战。在保证每个测试环节都是一流的解决方案的基础上,Tessent把它们集成到一个更强大的测试流程中来确保整个芯片的覆盖率。

灵活的测试解决方案
Tessent产品线的灵活性使得高质量的测试贯穿于整个产品生命周期——从晶圆、封装测试到老化、在系统及现场测试。通过挖掘扫描测试的结构化特性、BIST方法学并使之与物理特性相关联,从而达到精确的良率分析。

逻辑测试
先进设计技术使用的同时也给SoC逻辑部分要达到高质量的测试带来了明显的挑战。为了应对这些挑战,Mentor Graphics提供了业界最强大的逻辑测试解决方案:Tessent Scan(DFTAdvisor)、Tessent TestKompress、Tessent LogicBIST以及Tessent Fastscan. 这些解决方案已经存在超过十年以上,有数以千计的设计成功流片,以及成功使用压缩和更少向量方法的高质量测试案例。同时,它们提供最大的灵活性以达到测试时间与测试质量的最有效优化。


Mentor Graphics Tessent 2015.4 Linux (测试解决方案) | 610 mb


Tessent combines features of deterministic scan testing, embedded pattern compression, built-in self test, specialized embedded memory test and repair, and boundary scan, as well as board and system-level test technologies.

The Tessent product suite provides comprehensive silicon test and yield analysis solutions that address the challenges of manufacturing test, debug, and yield ramp for today’s SoCs. Built on the foundation of the best-in-class solutions for each test discipline, Tessent brings them together in a powerful test flow that ensures total chip coverage.

Language: English
Operating Systems: RedHat Entrprise Linux 4.x-6.x

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